麥克高性能多通道全自動比表面與孔隙分析儀 TriStar? II 3020系列
TriStar II和TriStar IIPLUS
TriStar II 3020為全自動三站式比表面積和孔隙度分析儀，性價比高。它在保證數(shù)據(jù)精度和強大的數(shù)據(jù)處理能力同時，大大加快了分析速度，可滿足大多數(shù)研究需求。TriStar II 也同時提供氪氣選配，可進(jìn)行低比表面測量。該儀器還提供多種分析方法和數(shù)據(jù)處理，用戶可根據(jù)需要選擇不同的計算數(shù)據(jù)。
比表面積和孔隙度是影響材料質(zhì)量和用途的兩個重要物理性質(zhì)，因此準(zhǔn)確測量以及控制這些參數(shù)非常重要。此外，這兩個性質(zhì)對材料研究也非常重要，它是了解天然材料形成、結(jié)構(gòu)、潛在應(yīng)用的非常關(guān)鍵參數(shù)。
TriStar II 系列產(chǎn)品應(yīng)用應(yīng)用筆記、文獻(xiàn)和參考書目ASTM方法
體積小/眾多特點
?三個分析站同時運行，但又相互獨立。 三站BET比表面積的測量可以在20分鐘內(nèi)完成。對于更多的樣品測試，四個TriStar可用一臺計算機控制。
?氮氣測試比表面積低可達(dá)0.01m2/g。TriStar II也可使用于氬氣、二氧化碳和非腐蝕性氣體如丁烷、甲烷或其他輕烴類。氪氣選配可測量低至0.001m2/g的比表面積。
?標(biāo)配的P0管可連續(xù)測量飽和壓力。飽和壓力可選擇輸入、連續(xù)測量或在樣品管中測量等方式獲得。
?大進(jìn)氣增量功能和定進(jìn)氣量功能，可在縮短分析時間的同時，避免“錯過”重要數(shù)據(jù)點。
?自由空間可選擇測量、計算或手動輸入等方式，靈活性大，滿足不同樣品的不同需求。
?增強的產(chǎn)品功能包括：視頻剪輯、計算機和TriStar之間的以太網(wǎng)通信、內(nèi)置電路測試和診斷的軟件、能夠通過互聯(lián)網(wǎng)進(jìn)行遠(yuǎn)程診斷、可兼容舊型號TriStar及 Gemini的I數(shù)據(jù)。
?2.75升，（可選配4L）大容量杜瓦瓶和超長樣品管，保證長時間分析測量。
?可測量多達(dá)1000個數(shù)據(jù)點的等溫線，可分析得到足夠多的材料結(jié)構(gòu)信息。
?基于Windows的控制軟件，具有強大的數(shù)據(jù)處理功能、SPC報告、等溫吸附熱等。
?可選不同的樣品制備站，流動/真空加熱等多種方式選擇。
?設(shè)計精美，體積小，使用方便